A Comprehensive Review for Micro/Nanoscale Thermal Mapping Technology Based on Scanning Thermal Microscopy

LI Yifan, ZHANG Yuan, LIU Yicheng, XIE Huaqing, YU Wei

热科学学报 ›› 2022, Vol. 31 ›› Issue (4) : 976-1007.

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Journal of Thermal Science

热科学学报
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热科学学报 ›› 2022, Vol. 31 ›› Issue (4) : 976-1007. DOI: 10.1007/s11630-022-1654-1

A Comprehensive Review for Micro/Nanoscale Thermal Mapping Technology Based on Scanning Thermal Microscopy

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